DIN EN 62047-12-2012 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC62047-12-2011).德文版本EN62047-12-2011
时间:2024-05-19 05:19:41 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8793
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part12:BendingfatiguetestingmethodofthinfilmmaterialsusingresonantvibrationofMEMSstructures(IEC62047-12:2011);GermanversionEN62047-12:2011
【原文标准名称】:半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC62047-12-2011).德文版本EN62047-12-2011
【标准号】:DINEN62047-12-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:抗弯强度;定义(术语);电气工程;疲劳;疲劳极限;材料;微电子学;微系统工艺;共振;试样;半导体器件;系统工程;试验;测试装置;试验体系;薄膜工艺
【英文主题词】:Bendingstrength;Definitions;Electricalengineering;Fatigue;Fatiguelimit;Materials;Microelectronics;Microsystemtechniques;Resonance;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingdevices;Testingsystem;Thin-filmtechnology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:TestMethodsforChipImpactStrengthofPlastics(08.03)
【原文标准名称】:塑料小片冲击强度的测试方法
【标准号】:ANSI/ASTMD4508-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:塑料;冲击强度;试验
【英文主题词】:impactstrength;testing;plastics
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:83_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Zinc,aluminiumandtheiralloyssprayedcoatings--Testmethodsforsprayedcoatings
【原文标准名称】:锌、铝及其合金喷镀层.喷镀层的试验方法
【标准号】:JISH8661-1999
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1999-08-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonNon-FerrousMetals
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:金属喷镀;试验;铝;防护覆层;锌;防腐蚀;喷涂;金属覆层
【英文主题词】:testing;spraying(coating);;;metalspraying;;;
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_20
【页数】:15P;A4
【正文语种】:日语