【英文标准名称】:Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods.Boardleveldroptestmethodusingastraingauge
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法
【标准号】:BSEN60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-09-30
【实施或试行日期】:2011-09-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;Specimens;Surfacemounting;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语